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便攜式紫外線強度計

簡要描述：便攜式紫外線強度計UV-B采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。便攜式紫外線強度計適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。便攜式紫外線強度計廣泛運用衛(wèi)生監(jiān)督。

產(chǎn)品型號：UV-B
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-11-14
訪問量：3541

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品牌	其他品牌	價格區(qū)間	面議
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便攜式紫外線強度計UV-B執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003－2014。

便攜式紫外線強度計UV-B型采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

特點

光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持

輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

技術(shù)標準

項目	參數(shù)	備注
波長范圍λ1，峰值波長λp	（230～275）nm，λ_P＝254nm	用戶二選一
波長范圍λ2，峰值波長λp	（275～330）nm，λ_P＝297nm	用戶二選一
輻照度測量范圍	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
紫外帶外區(qū)雜光	UV254<0.1%，UV297<0.05%
相對示值誤差	±8％（相對于NIM標準）
角度響應特性	±5% （α≤10°）
線性誤差	±1%
換檔誤差	±1%
短期不穩(wěn)定性	±1%（開機30min后）
疲勞特性	衰減量<2%
零值誤差	滿量程的±1%
響應時間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗	＜0.1VA

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